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球差电镜测试(北京)

球差电镜测试(北京)

价 格:¥5000

仪器安装地址:北京检测中心

检测能力:形貌分析、结构分析、成分分析

检测周期:10 工作日

项目好评率:100.00%

完成周期:2 工作日

服务次数:112 次

   

球差校正透射电子显微镜

JEM ARM  200F   日本JEOL公司生产
详情页图片.png        

技术参数

Technical Parameters
放大倍数:50-200万倍(透射模式)/200-15000万倍(STEM模式)                                  加速电压:200KV            
透射像分辨率:0.11 nm                                                                                                        STEM像分辨率:0.078 nm                  
样品台:全对中侧插式样品台                                                                                               最大倾转角:±25°                

应用范围

Applied Range

       JEM ARM 200F球差电镜是一款原子级分析型透射电镜,拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率(78pm),无论是200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。 ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到了0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。            

利用它可以进行

形貌分析                
通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息,同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征。                
结构分析                
观察研究材料结构并进行原子尺度的微分析,如:原子像,选区电子衍射,会聚束电子衍射等。                
成分分析                
可在原子尺度对样品进行成分分析,可选择性的对样品进行能谱点测、能谱线扫、能谱面分布分析,获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面上的分布情况。                

检测案例

Test Case

(一)纳米材料检测案例        

       

(二)块体材料检测案例        

        

       

送样要求

Sample Requirement
粉末样品:样品量≥2mg(不接收强磁性样品)。
       
液体样品:样品量≥0.5ml(不接收强磁性样品)。        
块体样品:样品尺寸3mm,若小于该尺寸请联系在线客服具体确认。        
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项目评价

检测质量:
5.0分
服务态度:
5.0分
检测时效:
5.0分
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