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场发射透射电镜测试(JEM 2100F)

场发射透射电镜测试(JEM 2100F)

价 格:¥300

仪器安装地址:北京

检测能力:形貌分析、结构分析、成分分析

检测周期:5 工作日

项目好评率:100.00%

完成周期:1 工作日

服务次数:981 次

   

场发射透射电子显微镜

JEM 2100F  日本电子JEOL生产
2100.png        

技术参数

Technical Parameters
最大放大倍数:105万倍                                                                                                        加速电压:200KV            
点分辨率:0.23 nm                                                                                                               极限(信息)分辨率:0.1 nm            
STEM分辨率:0.5-2.4nm                                                                                                      最小束斑尺寸:2-5nm            
样品台:普通单、铍双倾台                                                                                                    最大倾转角:±30°            
X射线能谱仪元素分析范围:B5~U92            
       

应用范围

Applied Range

       主要检测对象为金属、矿物、半导体、超导体、无机化合物等固体纳米材料。、生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域的科研,是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的大型精密仪器。            

利用它可以进行

                    形貌分析                
通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息,同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征。                
结构分析                
观察研究材料结构并进行纳米尺度的微分析,如:高分辨晶格条纹像,选区电子衍射,会聚束电子衍射等。                
成分分析                
可对小到几纳米的微区或晶粒的进行成分分析,可选择性的对样品进行能谱点测、能谱线扫、能谱面分布分析,获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面上的分布情况。                

检测案例

Test Case
纳米材料检测案例
ZnO纳米线        
               
金纳米粒子                
金属材料检测案例
镁合金                
薄膜材料
               
选区电子衍射检测案例
ZnO纳米线
               
Cu合金                
能谱点测检测案例

Ag包覆金纳米棒
                   


                   


                   

能谱线扫案例

   

SiO2球掺杂Mn
                   

能谱面分布检测案例
                             

Co掺杂C材料

送样要求

Sample Requirement
粉末样品:样品量≥2mg(磁性样品必须由承方制样)。
       
液体样品:样品量≥0.5ml(磁性样品必须由承检方制样)。        
        
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项目评价

检测质量:
5.0分
服务态度:
5.0分
检测时效:
5.0分
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