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场发射透射电镜测试(北京)

场发射透射电镜测试(北京)

价 格:¥300

仪器安装地址:北京

检测能力:形貌分析、结构分析、成分分析

检测周期:5 工作日

项目好评率:100.00%

完成周期:3 工作日

服务次数:10569 次

   

场发射透射电子显微镜

FEI Tecnai G2 F30 美国FEI公司生产
透射电镜最终图片.jpg

技术参数

Technical Parameters
最大放大倍数:105万倍                                                                                                        加速电压:300KV
点分辨率:0.20 nm                                                                                                               极限(信息)分辨率:0.14 nm
STEM分辨率:0.19nm                                                                                                          最小束斑尺寸:0.2nm
物镜球差系数Cs:1.2nm                                                                                                       物镜色差系数Cc:1.2nm
样品台:普通单、铍双倾台                                                                                                   最大倾转角:±40°
X射线能谱仪元素分析范围:B5~U92                                                                                  X射线能谱仪能量分辨率:130 eV
       

应用范围

Applied Range

       Tecnai G2 F30 S-TWIN 透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的300kV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件,能采集TEM明场、暗场像和高分辨像,能进行选区电子衍射和汇聚束衍射,能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析,STEM结合EDX点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析。该仪器还配备了相关的制样设备,包括Gantan691离子减薄仪、磁力双喷电解减薄器和凹坑仪等,可以进行金属、生物以及高分子材料等样品的透射电子显微镜的制样工作。该仪器可广泛应用于高分子材料、陶瓷、纳米材料、生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域的科研,是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的大型精密仪器。

利用它可以进行

形貌分析
通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息,同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征。
结构分析
观察研究材料结构并进行纳米尺度的微分析,如:高分辨晶格条纹像,选区电子衍射,会聚束电子衍射等。                
成分分析
可对小到几纳米的微区或晶粒的进行成分分析,可选择性的对样品进行能谱点测、能谱线扫、能谱面分布分析,获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面上的分布情况。

检测案例

Test Case
纳米材料检测案例
碳量子点的形貌像
  碳包覆的铁酸锂纳米颗粒
金属材料检测案例
金属材料共格栾晶界
原子析出相
截面样品检测案例
硅基底截面样品形貌像
硅基底截面样品高分辨像
能谱检测案例
能谱线扫案例
能谱面分布案例

送样要求

Sample Requirement
粉末样品:样品量≥2mg(磁性样品必须由承方制样)。
液体样品:样品量≥0.5ml(磁性样品必须由承检方制样)。
块体样品:样品尺寸3mm,若小于该尺寸请联系在线客服具体确认。
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服务方信息

中科百测
好评率:100%

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项目评价

检测质量:
5.0分
服务态度:
5.0分
检测时效:
5.0分
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