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XRD测试(衍射,掠射,原位测试,微区)(北京)

XRD测试(衍射,掠射,原位测试,微区)(北京)

价 格:¥60

仪器安装地址:北京检测中心

检测能力:衍射测试,掠射测试,高温原位测试,电池原位测试

检测周期:5 工作日

项目好评率:99.99%

完成周期:2 工作日

服务次数:14110 次

X射线粉末衍射仪

BRUCKER D8 ADVANCE 德国布鲁克公司(高温原位:日本理学/帕纳科锐影)              
4545.png              
                           

技术参数

TECHNICAL PARAMETERS
                           
测量精度:角度重现性±0.0001°                                    测角仪半径:≥200mm,测角圆直径可连续变                         靶源:配有铜靶和钴靶
最小步长0.0001°                                                           角度范围(2θ):0.2°-140°                                                    温度范围:室温~1500℃
最大输出功率:3KW                                                    管电压:20~60kV(1kV/1step)                                                 管电流:10~60mA

应用范围

APPLIED RANGE

布鲁克公司的D8 ADVANCE X射线衍射仪是当今世界上最先进的X射线衍射仪系统,它设计精密,硬件软件功能齐全,能灵活地适应粉末,薄膜及完全晶体的各种微观结构测定,分析和研究任务。步进马达加光学编码器确保测角仪快速而准确定位,入射及衍射光路的各种附件均安装在高精度导轨上。同时配置有高温样台:试样所处高真空石墨罩,真空度达到2*10-3Mpa,试样最高可加热温度为1100℃。小角衍射最小角可以达到0.4度,主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射:最低角度可以达到5度,可以精确接收到小于10度的衍射峰。                              

利用它可以进行

物相分析                                  
可以对物质的组成及物相进行表征分析。                                  
定量分析                                  
通过精修可对物质的各组分进行精确的定量分析。                                  
高温原位分析                                  
通过高温原位实验可以研究温度对物质晶型转变的影响。                                  

             

检测案例

TEST CASE

(一)物相定性分析案例

案例1.jpg

(二)高温原位分析案例

案例2.jpg

(三)定量精修分析案例

案例3.jpg

(四)结构精修分析案例

案例4.jpg

(五)通过测试摇摆曲线,PHI以及倒易空间得到薄膜样品的结构以及排布信息

案例5.jpg

该组图片来自于文献 

送样要求

ASKED DIRECTLY
粉末样品:样品量≥50mg,样品均匀干燥,手摸无明显颗粒感。
       
块体样品:长宽尺寸1cm-2cm, 厚度≤2cm,表面平整光滑,需注明测试面。        
液体样品:1ml以上,需滴到硅片上制样,需保证样品易挥发,不含有难挥发的液体状物质。        
薄膜样品:长宽尺寸1cm-2cm, 薄膜厚度高于 100nm,表面平整光滑        
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