X射线粉末衍射仪
BRUCKER D8 ADVANCE 德国布鲁克公司(高温原位：日本理学/帕纳科锐影)
技术参数
测量精度：角度重现性：±0.0001° 测角仪半径：≥200mm，测角圆直径可连续变 靶源：配有铜靶和钴靶
最小步长0.0001° 角度范围（2θ）：0.2°-140° 温度范围：室温～1500℃
最大输出功率：3KW 管电压：20～60kV(1kV/1step) 管电流：10～60mA
应用范围
布鲁克公司的D8 ADVANCE X射线衍射仪是当今世界上最先进的X射线衍射仪系统，它设计精密，硬件软件功能齐全，能灵活地适应粉末，薄膜及完全晶体的各种微观结构测定，分析和研究任务。步进马达加光学编码器确保测角仪快速而准确定位，入射及衍射光路的各种附件均安装在高精度导轨上。同时配置有高温样台：试样所处高真空石墨罩，真空度达到2*10-3Mpa，试样最高可加热温度为1100℃。小角衍射最小角可以达到0.4°，主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射：最低角度可以达到5°，可以精确接收到小于10°的衍射峰。
物相分析
可以对物质的组成及物相进行表征分析。
定量分析
通过精修可对物质的各组分进行精确的定量分析。
高温原位分析
通过高温原位实验可以研究温度对物质晶型转变的影响。