欢迎来到百测网!  请 登录注册 全国免费热线:4009955399

您的位置: 百测网>送样检测>成分分析>成分分析SIMS >SIMS测试(北京)

SIMS测试(北京)

SIMS测试(北京)

价 格:¥1500

仪器安装地址:北京检测中心

检测能力:检测周期正常,数据质量正常

检测周期:5 工作日

项目好评率:100.00%

平均完成周期:4 工作日

服务次数:418 次

项目介绍

飞行时间二次离子质谱 IONTOF 5(德国)

 

 飞行时间二次离子质谱 IONTOF.png

 

技术参数

 

20kV C60 脉冲溅射离子枪 
铯溅射离子枪 
氩气/氧气溅射离子枪 
GCIB团簇离子枪 
样品传送管

应用范围

 

      飞行时间二次离子质谱技术(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,一束高能初级离子轰击样品表面激发出原子和分子碎片,一小部分激发出的粒子以离子的状态离开表面,被质量分析器探测出来,具有极高分辨率的测量技术。对于不同的材料,检测的含量不同,对于无机材料, 原子离子百分含量> 10%,对于有机材料,原子和分子离子碎片百分含量可以从0.001% 到 1%,仅从表面2个分子层激发出的粒子可以以离子态离开表面。

实际应用    

表征分析                        
采集离子质谱图用于表面元素(原子离子),同位素,分子化学结构(通过分子离子碎片)的表征                        
结构分析                        
点或面扫描(2D成像)得到成分分布像,观察不同成分在同一条线或面的分布情况。               
成分分析                        
深度剖析和3D成像可以分析不同的膜层结构和成分深度分布信息:多层膜层结构表征,成分掺杂深度,扩散,吸附等表征                        

服务方信息

专属客服

项目评价

检测质量:
5分
服务态度:
5分
检测时效:
5分
版权所有©中科百测(天津)检测技术有限公司 网站XML地图 备案号:津ICP备2022004561号