欢迎来到百测网!  请 登录注册 全国免费热线:4009955399

您的位置: 百测网>送样检测>微观形貌分析>扫描电子显微镜 >场发射扫描电镜测试(深圳)

场发射扫描电镜测试(深圳)

场发射扫描电镜测试(深圳)

价 格:¥110

仪器安装地址:深圳检测中心

检测能力:微观形貌分析,成分分析

检测周期:3 工作日

项目好评率:暂无评价

完成周期:1 工作日

服务次数:105 次

   

场发射扫描电子显微镜

GeminiSEM 300    德国蔡司公司生产
QQ截图20191125172452.png        

技术参数

Technical Parameters
放大倍数:12倍-200万倍(实际能到40万倍左右)                                                          加速电压:0.02-30kKV               
样品台最大直径:100mm                                                                                                 探测器:二次电子、背散射、ebsd           
X射线能谱仪元素分析范围:B5~U92                                                                              X射线能谱仪能量分辨率:130 eV            

应用范围

Applied Range

        Gemini SEM 300是Gemini SEM系列高对比度、低电压成像的热场发射扫描电子显微镜,具有出色的探测效率,能够轻松地实现纳米级分辨成像。Gemini SEM 300 具有出色的分辨率、更高的衬度和更大且无畸变的成像视野,可方便地选取适合样品的真空度等环境参数,使FESEM初学者也能快速掌握,无论是资深用户还是初学者,GeminiSEM 300将让您体验到在更高的分辨率和更佳的衬度下进行极大视野范围成像的乐趣。创新设计的高分辨率电子枪模式,为对磁性样品、不导电样品以及电子束敏感样品的低电压成像量身订制解决方案;蔡司独树一帜的镜筒内能量选择背散射探测器,在低电压下也可轻松地获得高质量的样品材料衬度图像;NanoVP技术让您可以使用镜筒内Inlens二次电子探测器对要求苛刻的不导电样品进行高灵敏度、高分辨成像。            

利用它可以进行

形貌分析                
通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息,同时还可通过专用的背散射探头对金属、陶瓷样品的质厚衬度像进行进一步的表征,可用于纳米材料、金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观察,同时还可对材料断口和失效模式进行分析。                
               
成分分析                
微区成分分析,通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析,可确定样品的组成。可选择性的对样品进行能谱点测、能谱线扫、能谱面分布分析,获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面上的分布情况。                

检测案例

Test Case

(一)二次电子像检测案例        

  二次电子像3.jpg    二次电子像4.jpg     二次电子像1.jpg    二次电子像2.jpg    

 (二)背散射像检测案例        

   背散射像1.jpg    背散射像2.jpg     

(三)能谱面分布检测案例        

  图片1.jpg        图2.jpg        

送样要求

Sample Requirement
粉末样品:样品量≥3mg(磁性样品必须由承检方制样)。
       
液体样品:样品量≥0.5ml(液体样品不接收磁性材料)。        
块体样品:长*宽*高≤100mm*100mm*100mm。                 
本网页的所有数据版权所有,禁止复制、粘贴、使用、传播,否则将追究法律责任!

服务方信息

中科百测
好评率:100%

售前电话1:15611556652

售前电话2:18801152019

售前电话3:18210253965

售前微信1:

售前微信2:

售前微信3:

项目评价

检测质量:
5分
服务态度:
5分
检测时效:
5分
版权所有©北京中科百测科技有限公司 备案号:京ICP备19001686号-1