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X射线荧光光谱法具有样品前处理简单、分析周期短、重现性好、可同时测定多元素、测试成本低等优点。X射线荧光光谱法XRF可以分析测试哪些元素? 今天中科百测就来给大家详细的介绍一下：XRF的原理以及XRF可以测试元素范围。
一、X射线荧光光谱法XRF
XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。
二、X射线荧光光谱分析法的特点
(一）优点
(1）分析速度快。
(2）X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态及物理状态无关。
(3）非破坏分析。
(4）X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对化学性质上属于同一族的元素也能进行分析。
(5）分析精密度高。
(6) X射线光谱比发射光谱简单,故易于解析。
(7）制样简单。
(8）X射线荧光分析系表面分析，测定部位是0.1mm深以上的表面层。
(二）缺点
(1）难于作绝对分析,故定量分析需要标样。
(2）原子序数低的元素，其检出限及测定误差都比原子序数高的元素差。
以上就是中科百测检测平台关于xrf测试仪的特点，如有测试需求，可以和中科百测联系，我们会给与您准确的数据和优秀的服务体验，希望可以在大家的科研路上有所帮助。