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X射线衍射仪是当今世界上最先进的X射线衍射仪系统，它设计精密，硬件软件功能齐全，能灵活地适应粉末，薄膜及完全晶体的各种微观结构测定，分析和研究任务。步进马达加光学编码器确保测角仪快速而准确定位，入射及衍射光路的各种附件均安装在高精度导轨上。同时配置有高温样台：试样所处高真空石墨罩，真空度达到2*10-3Mpa，试样最高可加热温度为1100℃。小角衍射最小角可以达到0.4度，主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射：最低角度可以达到5度，可以精确接收到小于10度的衍射峰。
可以用XRD定量分析哪些内容
A.样品的平均晶粒尺寸，基本原理：当X射线入射到小晶体时，其衍射线条将变得弥散而宽化，晶体的晶粒越小，x射线衍射谱带的宽化程度就越大。因此晶粒尺寸与XRD谱图半峰宽之间存在一定的关系,即谢乐公式（Scherrerequation），下期会详细分析其原理与注意事项。
对于对于负载型催化剂表面的金属颗粒，其颗粒大小d（单位nm）与其分散度D之间可以简单地换算：d≈ 0.9/D(注：0.9这个常数是经验值)。
B.样品的相对结晶度：一般将最强衍射峰积分所得的面积（As）当作计算结晶度的指标，与标准物质积分所得面积(Ag)进行比较，结晶度=As/Ag*100%。
C.物相含量的定量分析：主要有K值法也叫RIR方法和Rietveld全谱精修定量等。其中，RIR法的基本原理为1:1混合的某物质与刚玉(Al2O3),其最强衍射峰的积分强度会有一个比值，该比值为RIR值。通过将该物质的积分强度/RIR值总是可以换算成Al2O3的积分强度。对于一个混合物而言，物质中所有组分都按这种方法进行换算，最后可以通过归一法得到某一特定组分的百分含量。
D.XRD还可以用于点阵常数的精密计算，残余应力计算等。