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Tecnai G2 F30 S-TWIN 透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的300kV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，能采集TEM明场、暗场像和高分辨像，能进行选区电子衍射和汇聚束衍射，能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EDX点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析。该仪器还配备了相关的制样设备，包括Gantan691离子减薄仪、磁力双喷电解减薄器和凹坑仪等，可以进行金属、生物以及高分子材料等样品的透射电子显微镜的制样工作。该仪器可广泛应用于高分子材料、陶瓷、纳米材料、生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域的科研，是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的大型精密仪器。
利用它可以进行
形貌分析
通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征。
结构分析
观察研究材料结构并进行纳米尺度的微分析，如：高分辨晶格条纹像，选区电子衍射，会聚束电子衍射等。
成分分析
可对小到几纳米的微区或晶粒的进行成分分析，可选择性的对样品进行能谱点测、能谱线扫、能谱面分布分析，获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面上的分布情况。