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FEI Talos F200X透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的200kV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HAADF、CCD等附件，能采集TEM明场、暗场像和高分辨像，能进行选区电子衍射和汇聚束衍射，能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EDX点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析。该仪器还配备了相关的制样设备，包括Gantan691离子减薄仪、磁力双喷电解减薄器和凹坑仪等，可以进行金属、生物以及高分子材料等样品的透射电子显微镜的制样工作。
利用它可以进行
形貌分析
通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，同时还可通过明场像、暗场像对样品的质厚衬度像、衍衬像进行进一步的表征。
结构分析
观察研究材料结构并进行纳米尺度的微分析，如：高分辨晶格条纹像，选区电子衍射，会聚束电子衍射等。
成分分析
可对小到几纳米的微区或晶粒的进行成分分析，可选择性的对样品进行能谱点测、能谱线扫、能谱面分布分析，获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面上的分布情况。
该电镜完全数字化，直接由一台计算机控制。高分辨率分析系统完整，稳定，灵活。多用户界面、控制板面、各个功能模式能灵活切换。中科百测为该仪器配备了STEM, EDX, CCD, HAADF等多种附件，能采集TEM明场、暗场像和高分辨像，能进行选区电子衍射和汇聚束衍射，能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EDX点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析。中科百测的透射电子显微镜实验室还配备了一整套相关的制样设备，包括GATAN离子减薄仪、LEICA冰冻超薄切片机、磁力双喷电解减薄器和凹坑仪等，可以进行生物、高分子材料以及金属等样品的透射电子显微镜制样工作。
仪器使用范围
广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学，金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域。是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的工具。