>
XPS数据解析是指通过对初始图谱进行定标、分峰、拟合、比对、积分等一系列的操作而获得待测样品结构组成一种数据处理手段，常用的XPS数据解析软件有xps peak fit、Origin、CasaXPS等，通过XPS数据分析我们可得到样品表面的元素组成、含量、化学价态、官能团种类、化学键合方式等信息，可分为定性分析和定量分析两种。
XPS数据分析注意事项
1. XPS可以做的项目：常规全谱窄谱测试、俄歇谱、价带谱、深度溅射、MAPPING、角分辨
2. XPS测试的元素范围是Li-Cm，H、He元素不能测试
3. XPS数据分析可以等到元素的价态及半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号
4. 无特殊说明，默认是使用单色化AlKa源(Mono AlKa)能量是1486.6eV
5. 使用Al Kα X-ray会出现的重叠谱峰，当有重叠谱峰的时候直接定量的结果不能参考。下方是常见的一些重叠谱峰的情况，解决方法是
a.通过分峰拟合(这个是数据分析的内容)后再重新定量;
b.测试其他轨道的峰，需要备注相应的轨道，默认是测试最强峰;
c.如果是与部分元素的俄歇峰重叠，建议可以更换靶材试试，比如Mg靶
6. XPS测试数据提供原始数据，全谱图谱，无元素分析，精细谱不做任何矫正，不同材料的矫正方法不同，可以提供矫正操作的视频，链接。
选择中科百测做XPS数据分析有哪些优势
1、中科百测拥有较全面的仪器设备，及多余年经验的工程师团队。
2、提供顾问式服务，行业广，针对客户需求制定对应解决方案。
3、各领域一站式技术服务，六大检测实验室，全程专人对接，客户可实时了解报告进度