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XRF测试即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。那么，XRF测试的元素有哪些呢？下面中科百测XRF测试机构为您总结出下面这些。
利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。
X射线荧光光谱分析法的特点
(一）优点
(1）分析速度快。
(2）X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态及物理状态无关。
(3）非破坏分析。
(4）X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对化学性质上属于同一族的元素也能进行分析。
(5）分析精密度高。
(6) X射线光谱比发射光谱简单,故易于解析。
(7）制样简单。
(8）X射线荧光分析系表面分析，测定部位是0.1mm深以上的表面层。
(二）缺点
(1）难于作绝对分析,故定量分析需要标样。
(2）原子序数低的元素，其检出限及测定误差都比原子序数高的元素差。
X射线荧光光谱法XRF样品要求：
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干；
2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm；
3.检测单元表面尽量平整，且尺寸为4-4.5cm。
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